透射電鏡方法是利用透射電鏡對樣品的結(jié)構(gòu)和性能進行研究的方法。透射電鏡的工作原理與光學透射顯微鏡相同,只是用電子束替代了光束,用磁聚焦的電子透鏡替代了玻璃透鏡,而電子成像顯示于熒光屏上。電子束具有波動性,被加速了的電子束其波長約為光波的10萬分之一,而且有強的穿透力。透射電鏡有以下3種:
1.大型透射電鏡
大型透射電鏡(conventional TEM)一般采用80-300kV電子束加速電壓,不同型號對應(yīng)不同的電子束加速電壓,其分辨率與電子束加速電壓相關(guān),可達0.2-0.1nm,機型可實現(xiàn)原子級分辨。
2.低壓透射電鏡
低壓小型透射電鏡(Low-Voltage electron microscope, LVEM)采用的電子束加速電壓(5kV)遠低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會增強電子束與樣品的作用強度,從而使圖像襯度、對比度提升,尤其適合高分子、生物等樣品;同時,低壓透射電鏡對樣品的損壞較小。
分辨率較大型電鏡低,1-2nm。由于采用低電壓,可以在一臺設(shè)備上整合透射電鏡、掃描電鏡與掃描透射電鏡。
3.冷凍電鏡
冷凍電鏡(Cryo-microscopy)通常是在普通透射電鏡上加裝樣品冷凍設(shè)備,將樣品冷卻到液氮溫度(77K),用于觀測蛋白、生物切片等對溫度敏感的樣品。通過對樣品的冷凍,可以降低電子束對樣品的損傷,減小樣品的形變,從而得到更加真實的樣品形貌。