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原位加熱樣品臺(tái)的概述

更新時(shí)間:2022-12-17      點(diǎn)擊次數(shù):536
  原位加熱樣品臺(tái)由樣品臺(tái),控制器,源表以及計(jì)算機(jī)軟件程序等構(gòu)成。多路電子測(cè)量可以消除接觸電阻的影響,良好的電學(xué)屏蔽可以降低環(huán)境噪聲。使得同時(shí)加熱條件下的電學(xué)測(cè)量得以實(shí)現(xiàn)。產(chǎn)品提供數(shù)字化,自動(dòng)化管理程序使得實(shí)驗(yàn)操控變得十分容易。該儀器將在固態(tài)電池、功能氧化物、半導(dǎo)體材料以及相變等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。
 
  原位加熱樣品臺(tái)上的芯片可外接力學(xué)控制器,可動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)觀察樣品材料微結(jié)構(gòu)的變化。通過實(shí)時(shí)獲取的載荷、形變等數(shù)據(jù),以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結(jié)構(gòu)變化數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了定量分析材料的微觀力學(xué)性質(zhì)、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴(kuò)展、材料疲勞和斷裂機(jī)制、加速蠕變、分層、形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。該原位力學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性好,經(jīng)過科學(xué)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)漂移率最小化。

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