Femto TEM B超快透射電子顯微鏡解決方案采用飛秒級激光激發(fā)陰極電子束，并同時(shí)采用飛秒激光泵浦樣品，實(shí)現(xiàn)對樣品的超快表征。該解決方案結(jié)合了飛秒激光的飛秒時(shí)間分辨率和透射電子顯微鏡的原子空間分辨率，可進(jìn)行超高時(shí)間和空間分辨的成像、微區(qū)衍射以及能譜分析，可廣泛應(yīng)用于超高時(shí)空分辨的物質(zhì)原子結(jié)構(gòu)演變、化學(xué)價(jià)態(tài)變化、電荷轉(zhuǎn)移、電-聲子相互作用、電-光子相互作用等動力學(xué)研究。

超快TEM解決方案技術(shù)參數(shù)：

•能量范圍：100 keV至300 keV

• 電子束頻閃率：200kHz~25MHz（光激發(fā)）

• 電子脈沖長度：300fs（光激發(fā)）

超快TEM解決方案應(yīng)用：

•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡

–     CryoEM

–     LDA研究，生物大分子

–     超敏感分子的特性研究

–     蛋白質(zhì)

–     納米工程結(jié)構(gòu)分析

•      室溫Low-damage顯微鏡

–     提高有機(jī)材料表征時(shí)的總電子劑量

–     直流束流的晶體衰落值增加2倍（紅色箭頭）

•      電子全息技術(shù)

•      電子三維重構(gòu)

•      時(shí)間分辨顯微鏡

–     泵浦探針頻閃顯微鏡（射頻泵浦，束流探頭）

–     在射頻激勵(lì)下確定MEM器件中的電場特性

       1.    磁性和等離子設(shè)備的自旋電子學(xué)

        2.    NEMS / MEMS高頻設(shè)備