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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展更新時間:2023-08-11
產(chǎn)品型號:
簡要描述:AFM-in-SEM LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),“即插即用“,專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設(shè)計。新穎的探針和電子顯微鏡關(guān)聯(lián)(CPEM) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。
廠家實(shí)力
Manufacturer Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
Quality Assurance詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,航天 |
LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),"即插即用",專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設(shè)計。
新穎的探針和電子顯微鏡關(guān)聯(lián)(CPEM) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。
• 快速、即插即用地集成到 SEM 中
• 兼容FIB、GIS、EDX等標(biāo)準(zhǔn) SEM 附件
• 高度可定制
• 也可用作獨(dú)立的原子力顯微鏡
關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢
1、復(fù)合且相關(guān)的樣品分析
關(guān)鍵的 CPEM 技術(shù)可以同時采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關(guān)聯(lián)到 3D圖像中。
2、原位樣品表征
SEM 內(nèi)部的原位條件可確保在相同時間、相同地點(diǎn)和相同條件下進(jìn)行樣品分析。
3、精確定位感興趣區(qū)域
極其精確和省時的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導(dǎo)航到感興趣的區(qū)域,從而實(shí)現(xiàn)快速和輕松的定位。
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