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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-高關(guān)聯(lián)掃描電子顯微鏡-SEM-AFM-AFM-in-SEM

AFM-in-SEM

更新時間:2023-08-11

產(chǎn)品型號:

簡要描述:AFM-in-SEM LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),“即插即用“,專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設(shè)計。
新穎的探針和電子顯微鏡關(guān)聯(lián)(CPEM) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。

  • 廠家實(shí)力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,航天

LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),"即插即用",專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設(shè)計。

新穎的探針和電子顯微鏡關(guān)聯(lián)(CPEM) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。

• 快速、即插即用地集成到 SEM 中

• 兼容FIB、GIS、EDX等標(biāo)準(zhǔn) SEM 附件

• 高度可定制

• 也可用作獨(dú)立的原子力顯微鏡

 

關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢

1、復(fù)合且相關(guān)的樣品分析

關(guān)鍵的 CPEM 技術(shù)可以同時采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關(guān)聯(lián)到 3D圖像中。

2、原位樣品表征

SEM 內(nèi)部的原位條件可確保在相同時間、相同地點(diǎn)和相同條件下進(jìn)行樣品分析。

3、精確定位感興趣區(qū)域

極其精確和省時的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導(dǎo)航到感興趣的區(qū)域,從而實(shí)現(xiàn)快速和輕松的定位。

 

 

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