掃描電鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調;并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合,可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電鏡樣品臺在科學研究領域具有重大作用。
掃描電鏡樣品臺是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。目前,掃描電鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產等領域的微觀研究,僅在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。
掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛應用于觀察各種固態(tài)物質的表面超微結構的形態(tài)和組成。
所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉的電子系統(tǒng)來完成的,只是在結構和部件上稍有差異而已。
荷蘭DENSsolutions公司提供技術先進的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應用領域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、金屬結構、催化劑、陶瓷原位加熱研究等。產品包括原位TEM樣品加熱、電學、氣體以及液體系統(tǒng)等。
DENSsolutionsWildfire掃描電鏡樣品臺由樣品臺，控制器，以及計算機軟件程序等構成，該設備使用四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度以消除接觸電阻影響。可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結構表征。該儀器主要在低維材料、納米技術、材料工程、能源材料及軟物質等研究領域中廣泛應用。
