掃描電鏡即掃描電子顯微鏡(SEM)。主要用于觀察樣品的表面形貌、割裂面結(jié)構(gòu)、管腔內(nèi)表面的結(jié)構(gòu)等。是利用電子射線轟擊樣品表面，引起二次電子等信號的發(fā)射，經(jīng)檢測裝置接收后成像的一類電鏡。
電子槍提供一個穩(wěn)定的電子源，形成電子束，一般使用鎢絲陰極電子槍，用直徑約為0.1mm的鎢絲，彎成發(fā)夾形，形成半徑約為100um的V形。當燈絲電流通過時，燈絲被加熱，達到工作溫度后便發(fā)射電子，在陰極和陽極間加有高壓，這些電子則向陽極加速運動，形成電子束。掃描電鏡電子束在高壓電場作用下，被加速通過陽極軸心孔進入電磁透鏡系統(tǒng)。
電磁透鏡由聚光鏡和物鏡組成，其作用是依靠透鏡的電磁場與運動電子相互作用使電子束聚焦，將電子槍發(fā)射的電子束10～50um壓縮成5～20nm，縮小到約1/10000。聚光鏡可以改變?nèi)肷涞綐悠飞想娮邮鞯拇笮。镧R決定電子束束斑的直徑。電子光學系統(tǒng)中存在的球差、色差、像散等，都會影響Z終圖像的質(zhì)量。球差的產(chǎn)生使遠離光軸軌跡上運動的電子比近軸電子受到的聚焦作用更強。克服的方法是在電子光學的光軸中加三級固定光闌擋住發(fā)散的電子束，光闌通常采用厚度為0.05mm的鉬片制作，物鏡消像散器提供一個與物鏡不均勻磁場相反的校正磁場，使物鏡Z終形成一個對稱磁場，產(chǎn)生一束細聚焦的電子束。
荷蘭DENSsolutions公司提供技術(shù)先進的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應用領(lǐng)域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、金屬結(jié)構(gòu)、催化劑、陶瓷原位加熱研究等。產(chǎn)品包括原位TEM樣品加熱、電學、氣體以及液體系統(tǒng)等。
